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  • 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無(wú)需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT710HR 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見(jiàn)性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)!目前,除了納米級(jí)的分辨率和分析性能外,數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速;而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”,只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀(guān)察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠(chǎng)也是*。 在這些場(chǎng)景中,用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀(guān)察操作,因此快速完成這...

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  • 掃描電鏡價(jià)格
    掃描電鏡價(jià)格

    JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價(jià)格不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠(chǎng)也是*。 在這些場(chǎng)景中,用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀(guān)察操作,因此快速完成這些...

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  • JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀
    JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀

    JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(FP法?檢量線(xiàn)法)、RoHS元素篩選功能等?!?利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更...

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  • 雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)
    雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)

    隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過(guò)程的復(fù)雜化,形貌觀(guān)察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿(mǎn)足這些需求,JEOL推出新一代雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)JIB-4700F。

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  • JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)
    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)

    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀(guān)察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為T(mén)EM制備薄膜...

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  • JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
    JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀

    JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí),追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀(guān)察分析和操作,是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。

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  • CP截面樣品制備裝置
    CP截面樣品制備裝置

    IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過(guò)程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。...

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  • IB-19530CP截面樣品制備裝置
    IB-19530CP截面樣品制備裝置

    IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。

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  • 離子切片儀
    離子切片儀

    EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度(0°到6&...

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產(chǎn)品展示
  • 日本電子ROHSX射線(xiàn)熒光分析儀金屬成分分析
    日本電子ROHSX射線(xiàn)熒光分析儀金屬成分分析

    日本電子ROHSX射線(xiàn)熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線(xiàn)CCD相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...

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  • 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無(wú)需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT710HR 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見(jiàn)性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)!目前,除了納米級(jí)的分辨率和分析性能外,數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速;而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”,只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀(guān)察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • ROHS金屬成分分析儀
    ROHS金屬成分分析儀

    ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線(xiàn)CCD相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠(chǎng)也是*。 在這些場(chǎng)景中,用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀(guān)察操作,因此快速完成這...

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賽非特科學(xué)儀器(蘇州)有限公司
關(guān)于賽非特賽非特公司主要是一家專(zhuān)門(mén)從事進(jìn)口儀器設(shè)備銷(xiāo)售公司。主要服務(wù)于華東,華中,華南地區(qū)形成了一個(gè)覆蓋中國(guó)沿海地區(qū),并延伸至內(nèi)地的銷(xiāo)售網(wǎng)絡(luò)。我們服務(wù)項(xiàng)目包含儀器銷(xiāo)售,維修,安裝,儀器校準(zhǔn),保養(yǎng)等,是一加集進(jìn)口,銷(xiāo)售,安裝,服務(wù)一體的進(jìn)口儀器銷(xiāo)售公司,公司秉承“技術(shù)至上,服務(wù)進(jìn)取”的經(jīng)營(yíng)理念,堅(jiān)持“客戶(hù)第一”的原則為廣大客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎廣大客戶(hù)惠顧!賽非特公司主要合作品牌有:賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷(xiāo)售產(chǎn)品為各式液相色譜,氣相色譜,光譜儀,質(zhì)譜儀,光學(xué)顯微鏡,掃描電鏡,X光檢查機(jī),x光熒光分析儀等相關(guān)儀器。賽非特客戶(hù)群為電子行業(yè),鋼鐵行業(yè),礦產(chǎn),生物,醫(yī)療,材料等各種領(lǐng)域。為客戶(hù)提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務(wù),用自身技術(shù)協(xié)助解決用戶(hù)的現(xiàn)實(shí)問(wèn)題。歡迎廣大客戶(hù)來(lái)電指導(dǎo),共同學(xué)習(xí)探討。
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技術(shù)文章
  • 低溫冷凍離子切片儀作為一種高精度的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,因其能夠在低溫環(huán)境下對(duì)易受熱損傷的樣品進(jìn)行精準(zhǔn)切片,廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域,尤其是在生物醫(yī)學(xué)和材料科學(xué)領(lǐng)域,其應(yīng)用最為廣泛。一、生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域低溫冷凍離子切片儀在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域有著極其重要的應(yīng)用。它能夠?qū)ι锝M織進(jìn)行快速冷凍并制備超薄切片,從而保留組織的原始結(jié)構(gòu)和成分。這種技術(shù)廣泛應(yīng)用于以下方面:病理學(xué)診斷:在醫(yī)院和醫(yī)學(xué)院中,冷凍切片機(jī)被用于快速制備病理切片,幫助醫(yī)生進(jìn)行快速診斷,尤其是在手術(shù)過(guò)程中需要即時(shí)病理結(jié)果時(shí)。細(xì)胞和組織研究:科研人...
    2025-6-20
  • 低溫冷凍離子切片儀作為一種先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,為生物醫(yī)學(xué)研究、材料科學(xué)以及納米技術(shù)等領(lǐng)域提供了高效、精準(zhǔn)的切片解決方案。其低溫冷凍技術(shù)與離子束切片技術(shù)相結(jié)合,為易受熱損傷的樣品制備提供了創(chuàng)新優(yōu)勢(shì)。1.低溫保護(hù)技術(shù)核心優(yōu)勢(shì)之一是其先進(jìn)的低溫保護(hù)系統(tǒng)。通過(guò)液氮制冷技術(shù),樣品架的冷卻溫度可低至-120℃,并且冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)達(dá)8小時(shí)。這種低溫環(huán)境能夠有效抑制樣品在離子束照射過(guò)程中的熱損傷,確保樣品的結(jié)構(gòu)和成分在切片過(guò)程中保持穩(wěn)定。此外,該設(shè)備在裝有液氮的情況下,也可以交換樣品,大大提高...
    2025-6-17
  • 日本電子掃描電鏡憑借其高分辨率成像能力和多模式分析功能,在細(xì)胞與微生物研究中展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì)。在細(xì)胞研究領(lǐng)域,該設(shè)備可清晰呈現(xiàn)細(xì)胞表面形貌與超微結(jié)構(gòu),例如腫瘤細(xì)胞表面通常具有更豐富且不規(guī)則的微絨毛,這些特征與癌細(xì)胞的侵襲和轉(zhuǎn)移能力密切相關(guān)。通過(guò)二次電子成像模式,研究人員能夠觀(guān)察到細(xì)胞膜褶皺、微絨毛分布等細(xì)節(jié),為分析細(xì)胞形態(tài)變化與功能異常提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。此外,設(shè)備支持的三維重構(gòu)技術(shù)(如日立電鏡-Gatan3View聯(lián)用系統(tǒng))可實(shí)現(xiàn)細(xì)胞器分布的立體可視化,幫助揭示細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)變...
    2025-6-10
  • 低溫冷凍離子切片儀是一種用于制備高分辨率電鏡樣品的先進(jìn)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。它通過(guò)低溫冷凍技術(shù)和離子束切割技術(shù)相結(jié)合,能夠有效減少樣品在制備過(guò)程中的熱損傷,同時(shí)實(shí)現(xiàn)高精度的切片操作。一、低溫冷凍系統(tǒng)核心在于其低溫冷凍系統(tǒng)。該系統(tǒng)利用液氮等制冷劑,將樣品迅速冷卻至ji低溫度(通常為-120℃左右),從而有效抑制樣品在切片過(guò)程中的熱損傷。這種低溫環(huán)境能夠保持樣品的原始結(jié)構(gòu)和成分,尤其適用于易受熱損傷的生物樣品。二、離子束切割技術(shù)離子束切割技術(shù)是低溫冷凍離子切片...
    2025-6-6
  • 截面拋光儀的誕生,為材料研究領(lǐng)域注入了強(qiáng)勁的技術(shù)動(dòng)力。它能夠?yàn)榭蒲腥藛T制備出高質(zhì)量的理想截面,從而助力他們深入探尋材料的微觀(guān)世界奧秘。在材料科學(xué)研究進(jìn)程中,精準(zhǔn)觀(guān)察與分析材料內(nèi)部結(jié)構(gòu),是揭示材料性能表現(xiàn)與行為規(guī)律的關(guān)鍵所在,而制備出高質(zhì)量的材料截面,則是開(kāi)展這項(xiàng)研究工作的基礎(chǔ)前提。一、精準(zhǔn)呈現(xiàn)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)材料的截面質(zhì)量直接影響到后續(xù)的分析結(jié)果。一個(gè)理想的截面應(yīng)該平整光滑、無(wú)劃痕、無(wú)裂紋,且能夠真實(shí)反映材料內(nèi)部的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。截面拋光儀通過(guò)其拋光技術(shù),能夠有效去除材料表面的加工痕跡...
    2025-5-27
  • 在材料科學(xué)的微觀(guān)研究中,高質(zhì)量的樣品制備是通往微觀(guān)世界的基石,而截面拋光儀正是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵工具。它為材料科學(xué)家提供了一種高效且可靠的手段,助力他們?cè)谖⒂^(guān)領(lǐng)域展開(kāi)深入探索。微觀(guān)結(jié)構(gòu)的分析對(duì)于理解材料性能、優(yōu)化制備工藝以及開(kāi)發(fā)新型材料至關(guān)重要,而拋光儀正是實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量樣品制備的重要保障。材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)往往蘊(yùn)含著豐富的信息,從晶體的排列方式到缺陷的分布情況,這些細(xì)節(jié)都直接影響著材料的宏觀(guān)性能。然而,要觀(guān)察到這些微觀(guān)特征,首先需要制備出高質(zhì)量的樣品截面。傳統(tǒng)的手工拋光方法不僅耗時(shí)...
    2025-5-19
  • 掃描電子顯微鏡(SEM)的分辨率極限是其核心性能指標(biāo)之一,通??蛇_(dá)1納米以下,介于光學(xué)顯微鏡的極限分辨率(200納米)和透射電鏡的分辨率(0.1納米)之間。這一分辨率水平使得SEM能夠觀(guān)察材料表面極細(xì)微的組織結(jié)構(gòu),滿(mǎn)足納米技術(shù)、材料科學(xué)等領(lǐng)域?qū)ξ⒂^(guān)表征的需求。然而,SEM的分辨率并非無(wú)限可提升,其受到電子束波長(zhǎng)、束斑直徑、樣品表面電勢(shì)分布及設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)等多種因素制約。為突破分辨率瓶頸并優(yōu)化設(shè)備性能,可采取以下策略:優(yōu)化電子光學(xué)系統(tǒng):采用場(chǎng)發(fā)射電子槍和先進(jìn)的電磁透鏡系統(tǒng),可顯著...
    2025-5-16
  • 在材料科學(xué)、電子顯微鏡學(xué)以及相關(guān)研究領(lǐng)域中,對(duì)材料內(nèi)部微觀(guān)結(jié)構(gòu)的分析是理解材料性能和行為的關(guān)鍵。而高質(zhì)量的截面制備是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的基礎(chǔ)。截面拋光儀作為一種制備工具,能夠?yàn)椴牧戏治鎏峁└哔|(zhì)量的截面,極大地推動(dòng)了材料科學(xué)研究的發(fā)展。一、高質(zhì)量截面的重要性材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)決定了其宏觀(guān)性能,因此,對(duì)材料內(nèi)部微觀(guān)結(jié)構(gòu)的分析至關(guān)重要。高質(zhì)量的截面能夠清晰地展示材料的內(nèi)部組織、晶粒結(jié)構(gòu)、相分布以及缺陷等信息。這些信息對(duì)于材料的研發(fā)、改進(jìn)和應(yīng)用具有極其重要的意義。例如,在半導(dǎo)體材料的研究中,高...
    2025-5-12
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