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當前位置:首頁產品中心制樣設備IB-09060CIS™低溫冷凍離子切片儀

低溫冷凍離子切片儀

產品簡介

IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。

產品型號:IB-09060CIS™
更新時間:2025-06-12
廠商性質:代理商
訪問量:2132
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品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產地類別國產應用領域化工,電子/電池,綜合

      低溫冷凍離子切片儀帶有樣品冷卻系統(tǒng),對容易受熱損傷的樣品也可以進行截面制備的離子切片儀。

  低溫冷凍離子切片儀特點:

  ①通過液氮制冷,減輕了離子照射時對樣品造成的熱損傷。

 ?、诳梢杂糜谥苽銽EM的薄膜樣品和SEM的截面樣品*

 ?、劾鋮s保持時間長,大大減少了熱損傷。

 ?、茉谘b有液氮的情況下,也可以交換樣品。

  *最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。

  帶有樣品冷卻系統(tǒng),對容易受熱損傷的樣品也可以進行截面制備的離子切片儀。

 ?、偻ㄟ^液氮制冷,減輕了離子照射時對樣品造成的熱損傷。

 ?、诳梢杂糜谥苽銽EM的薄膜樣品和SEM的截面樣品。

  ③冷卻保持時間長,大大減少了熱損傷。

 ?、茉谘b有液氮的情況下,也可以交換樣品。

  *最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。

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